新系统可同时测试多个标签，快速确定天线设计方案

    Georgia技术学院的研究人员已经设计成功一种新的系统，可以同时测量数百个RFID标签和快速测试新的RFID标签原型。这个测试系统可以测量被其它标签覆盖的标签的信号强度，虚拟快速测试各种天线配置和多重天线，从而节省试验标签的组装时间。
    系统工作频率915MHz，由三个部分组成：发射器、接收器、仿真器。仿真器模拟集成电路的功能。发射器发射电波到天线。仿真器与天线连接，所以接收器得到的是每个标签的独特的频谱信号带。这样每一个天线发射的信号都各不相同，所以系统可以同时测量各个标签发射的信号的强度。采用这样的方法试验小组可以同时测量多达256个天线的信号强度和方位，大约分布在读取器周围20英尺x 20英尺范围。
    这项研究得到美国国家科学基金会的资助，项目主持人是学院的毕业研究生Anil Rohatgi和在读研究生Joshua Griffin，研究论文08年4月在IEEE国际年会RFID专题会议上面宣读。